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【征文】“高可靠元器件应用验证及选用技术论坛”

2021-07-12
来源:ChinaAET
关键词: 元器件 验证 可靠性

当前,元器件应用验证工作是元器件实现国产化过程中的必要和重要的环节。元器件应用验证是指在元器件工程应用前开展的一系列试验,评估和综合评价,以确定元器件研制的成熟度和工程应用的适用度,能够有效指导元器件产品走向成熟和合理应用,保障新研元器件在装机使用过程中的可靠性,提高元器件的上装率。“高可靠元器件应用验证及选用技术论坛”拟以“高可靠元器件应用验证及选用技术”为主题,邀请行业内各领域专家,为高可靠元器件应用验证建言献策,并特此开展关于高可靠元器件应用验证及选用技术的征文活动。现将相关事宜通知如下:

1.     征文主题

高可靠元器件应用验证及选用技术。

2.     征文内容

结合征文主题,在以下四项技术领域之中,选取一项或多项专业方向展开论述,重点内容应包括该专业国内外发展现状,存在问题和发展瓶颈,该专业标准现状及标准需求等内容。

(1)      应用验证管理

    1)      应用验证的策划

    2)      应用验证的项目管理

    3)      应用验证的数据与成果推广

(2)      应用验证方案

    1)      应用验证技术方案的构建

    2)      指标体系的建立方法

    3)      试验大纲的编制思路

    4)      应用验证项目的选取方法

(3)      应用验证技术

    1)      应用验证参数的选取

    2)      验证测试方法

    3)      具体类别基础产品的验证实例

    4)      测试向量编制方法

    5)      板级验证测试方法

    6)      验证工装夹具w88方案等

(4)      元器件新技术

    1)      自主元器件发展前沿

    2)      选用替代过程新理论

    3)      新型自主元器件测试验证设备和软件工具

    4)      其他应用验证相关方法

3. 论文要求

(1) 字数一般不超过6000字;

(2) 论文书写顺序:题目,作者姓名,作者单位,摘要(150-200字),关键词,正文,参考文献,作者简介(附文后,包括姓名,性别,出生年月,毕业院校,工作单位,职务职称,个人获奖情况,通信地址,联系电话等);

(3) 需为原创,杜绝抄袭;

(4) 文章内容应不涉密。

4. 论文待遇

由论坛组委会专家组对投稿论文进行筛选,入围论文作者将受邀参加高可靠元器件应用验证及选用技术论坛,对有代表性论文,其作者将受邀做主题演讲。同时优秀获奖论文依据论坛组委会专家组评审意见分类别在以下杂志刊发。

《电子技术应用》(ISSN0258-7998)

《信息技术与网络安全》(ISSN2096-5133)

《航空标准化与质量》(ISSN1003-6660)

5. 征集对象

参与高可靠元器件应用验证相关的政府机构,科研院所,企事业单位等均可投稿。

6. 投稿时间与方式

(1)8月10日前,请将投稿意向(作者,所在单位,论文名称,联系方式)以电子邮件方式发送至邮箱:835530212@qq.com

/limu0617@qq.com

(2)8月30日前,请将稿件全文以电子邮件方式发送至邮箱:835530212@qq.com /limu0617@qq.com;

(3)联系人/联系电话:

姜寿奎 18611762606,李阳13811791119 ,李霂16620925695


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